Imagem de campo escuro anular

Imagem de campo escuro anular é um método de mapear amostras e, um microscópio eletrônico de varredura por transmissão.

7 relações: Difração, Difração de raios X, Elétron, Espectroscopia de perda de energia de elétrons, Microscópio eletrônico de varredura por transmissão, Microscopia de campo escuro, Número atómico.

Difração

é um fenômeno físico que acontece quando uma onda encontra um obstáculo, permitindo que a onda contorne estes obstáculos e se espalhe ao passar por uma abertura.

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Difração de raios X é um fenômeno no qual os átomos de um cristal, em virtude de seu espaçamento uniforme, causam um padrão de interferência das ondas presentes em um feixe incidente de raios X. É uma técnica usada para determinar a estrutura atômica e molecular de um cristal, na qual os átomos cristalinos fazem com que um feixe de raios X incidentes difrate em muitas direções específicas.

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Elétron

O (do grego ήλεκτρον, élektron, "âmbar") é uma partícula subatômica, de símbolo ou, com carga elétrica negativa.

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Espectroscopia de perda de energia de elétrons

Na espectroscopia de ou por perda de energia de (EELS, do inglês electron energy loss spectroscopy), também conhecida como espectroscopia de impacto de elétrons, um material é exposto a um feixe de elétrons com uma estreita e conhecida faixa de energias cinéticas.

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Microscópio eletrônico de varredura por transmissão

Um microscópio eletrônico de varredura por transmissão (MEVT, ou STEM, do inglês scanning transmission electron microscope) é um tipo de microscópio eletrônico de transmissão (MET).

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Microscopia de campo escuro

Microscopia de campo escuro é um método de microscopia em que é utilizado um condensador de campo escuro que contém um disco opaco.

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Número atómico

(Z) é um termo usado na física e na química, para designar o número de, encontrados no núcleo de um átomo.

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